ZEISS Sigma 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡用于高品質(zhì)成像與分析的葬司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測(cè)測(cè)，4步工作流程的分析性能

將的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemin 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)

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靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像

更用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息，

使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

用戶友好,操作簡單

SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡便的操作。

基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專領(lǐng)域。但是，非專業(yè)用戶(例如學(xué)生，接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

特點(diǎn):

ZEISS Sigma 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡用于清晰成像的靈活探測(cè)

利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求走制 Siqma，表征所有樣品

利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。

利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Siama 創(chuàng)新的C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。